badblock的兩種無損檢測的優缺點是什麼？

我badblocks用來測試我用來啟動 RPi 的 32GB 10 級 microSD 卡。我已經有一個正常執行的文件系統，所以我不想使用-w選項（破壞性讀寫測試）對其進行掃描。

我有兩個選擇：我可以使用預設的只讀測試，或者我可以使用非破壞性讀寫測試（通過備份扇區，破壞性測試，然後恢復扇區的原始內容來完成）。

選擇測試類型時應該考慮什麼？我希望它盡可能快，但我也需要準確的結果。

只讀測試只讀取。這基本上是幾乎所有東西的預設測試方法，幾乎與磁碟為 SMART 自測所做的相同。

無損讀寫測試的工作原理是覆蓋數據，然後讀取驗證，然後再將原始數據寫回。驗證寫入數據是否有效的唯一方法是實際寫入數據，沒有隻讀測試會為您做到這一點。

只做閱讀測試的人（大多數人，僅僅因為寫測試需要至少兩倍的時間）只是真誠地認為，在閱讀作品時，寫作（以及能夠閱讀後來寫入的數據）可能也會起作用.

然而，非破壞性是相對的……畢竟寫入本身可能會破壞它（在寫入周期有限的介質上），一旦它被破壞，也無法將原始數據寫回，所以即使測試是非破壞性的，如果您的硬體出現故障，它仍然可能會失去一些額外的數據。

因此，如果您希望恢復的介質上有數據，則不應使用壞塊。特別是如果你已經知道它會變壞……如果你還沒有備份，那就ddrescue直接做吧。這也恰好是一個只讀測試，日誌文件會告訴你錯誤區域在哪裡……

引用自：https://unix.stackexchange.com/questions/280658